Global Informatics
Расчет общей площади SΣ, занимаемой пленочными элементами, проводниками и контактными площадками:
SS= SRI + SCG + Sпр + SQпл ,
где SRI, SCG, Sпри SQпл - общие площади резисторов, конденсаторов, проводников и контактных площадок.
SS= ![]()
+ ![]()
+ 1,694 + 0,04028 = 1,974033808см2
Определяем необходимую площадь Sп подложки:
Sп = SS/ks,
Где ks = (0,4 .0,6) - выбираемый коэффициент использования подложки.
Sn =2*1,974033808/0,4=10см2
Из табл. 1.3 по данным расчетов выбран ближайший типоразмер подложки: № 4 (48×30 мм, S = 14,4см2).
Статья в тему
Система централизованного контроля температуры
Система
централизованного контроля температуры (СЦКТ) предназначена для измерения
температуры объекта и получении информации о выходе температуры разных точек
объекта за границы уставок.
Система
централизованного контроля (СЦК) позволяет собирать и обрабатывать большое
количество ...