Определение параметров надежности проектируемого устройства

Средняя наработка на отказ определяется по формуле (1.3)

Вероятность безотказной работы определяется по формуле (1.4)

Гамма -процентный срок сохраняемости определяется по формуле (1.5)

Результаты расчётов показали, что применение облегченных режимов эксплуатации и более детальный учёт внешних условий позволили увеличить показатели надежности более чем на порядок.

Таблица 1.4- Интенсивность отказов компонентов с учетом внешних условий и облегченного режима эксплуатации

Интенсивность отказов нормальном режиме,1/ч	0,35	0,35	0,40	0,20	0,40	0,42	0,42	0,42	0,42	0,2	0,2	0,2	0,2	0,81	0,81	0,1	1	6,13
Поправочный к- т К5	0,35	0,35	0,40	0,20	0,40	0,42	0,42	0,42	0,42	0,2	0,2	0,2	0,2	0,81	0,81	0,1	1
Поправочный к-т К4	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0
Поправочный к-т К3	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0
Поправочный к-т К2	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0	1,0
Интенсивность отказов внорм. режиме, 1/ч	1	1	0,15	0,21	1,05	0,172	0,215	0,258	0,258	0,026	0,013	0,013	0,013	0,4	2,2	0,15	1,9
Тип элемента	КТ639Д	КТ639Д	К10П-4	К50-46	К10П-4	С233Н-0,125	С2-11	С2-1-0,125	С2-6	К155А7	TL494	AT90S8535	VD16244	Д1N401	KД50A	ПКн105М-1…4
Схемное обозначение	VT1-VT2	VT1-VT2	С1	С2-С4,С6-С8	С5,С6, С9-С12	R1,R6,R8R10,R16	R2,R21,R3R5,R22	R17R20,R11R12, R22	R23R29,R7,R13,R15	DD1.1-DD1.2	DD2	DD3	DD4	VD1-VD2	VD5-VD14	SA1-SA4
Элемент	Транзистор	Транзистор	Конденсатор	Конденсатор	Конденсатор	Резистор	Резистор	Резистор	Резистор	Микросхема	Микросхема	Микросхема	Микросхема	Диод	Диод	Пер.кноп.	Пайка

Перейти на страницу: 1 2 3

Статья в тему

Ультразвуковой вискозиметр
Вязкость - свойство жидкостей оказывать сопротивление перемещению одного слоя относительно другого. Количественно вязкость характеризуется значением динамической вязкости или коэффициентом внутреннего трения. Характерной особенностью этого вида трения является то, что оно наблюдае ...

Главные разделы